分析功能

使用 SmartPlot 的分析工具清理信号、校正基线、拟合峰和趋势,并把选中范围转化为可以继续绘图、排版和导出的结果。

推荐分析流程

多数分析操作最好在图层可见之后进行,因为你可以一边调参数一边通过图形预览判断选区和结果是否符合实验含义。

  1. 导入或整理数据表。
  2. 创建或选中目标图层。
  3. 选择有意义的 x 范围或数据区域。
  4. 从“分析”菜单选择分析方法。
  5. 调整参数并查看预览。
  6. 应用结果,同时保留原始数据用于对比。
  7. 继续调整样式、添加标注、导出或保存项目。

界面入口与关键参数

选择数据或图层 -> 分析 -> 选择方法 -> 设置 ROI 和参数 -> 预览 -> 应用

  • ROI / 选中范围
  • 方法
  • 基线或拟合模型
  • 峰数量
  • 平滑窗口
  • 预览状态
  • 结果输出

分析方法说明

基线校正

用途: 去除谱图或曲线中缓慢变化的背景,让信号强度比较更可靠。

适用场景: 整条曲线存在漂移、斜背景或不应计入信号的偏移时使用。

主要设置

  • ROI 或全范围
  • 基线模型
  • 锚点或端点行为
  • 预览叠加

操作流程

  1. 选中曲线。
  2. 选择“基线校正”。
  3. 调整范围和模型。
  4. 预览校正后的曲线。
  5. 作为派生结果应用。

Shirley 扣背底

用途: 估计 XPS 峰区域下方由非弹性散射产生的背景。

适用场景: XPS 谱图中峰包络下的背景在峰区内逐渐升高或降低时使用。

主要设置

  • 峰区域 ROI
  • 端点模式
  • 负值裁剪
  • 校正后谱图输出

操作流程

  1. 导入 XPS 数据。
  2. 选择峰区域。
  3. 应用 Shirley 扣背底。
  4. 检查校正后的基线。
  5. 如有需要继续峰拟合。

峰拟合

用途: 对一个或多个峰进行拟合,估计峰位、峰高、面积和宽度。

适用场景: 需要分离重叠峰,或需要定量报告峰参数时使用。

主要设置

  • 峰数量
  • 峰模型
  • 初始峰位
  • 拟合范围
  • 残差预览

操作流程

  1. 必要时先做基线校正。
  2. 选择拟合范围。
  3. 设置峰数量和初始峰位。
  4. 查看拟合曲线和残差。
  5. 应用结果并标注关键峰。

趋势拟合

用途: 拟合线性、多项式、指数或幂律等数学关系。

适用场景: 需要概括趋势、校准曲线或动力学关系时使用。

主要设置

  • 模型类型
  • 拟合范围
  • 参数显示
  • 方程 / R² 标签

操作流程

  1. 选择成对的 X/Y 数据。
  2. 选择“趋势拟合”。
  3. 选择符合实验含义的模型。
  4. 预览拟合曲线。
  5. 只在有助于说明时添加方程标签。

平滑

用途: 降低视觉噪声,让主要曲线形状更容易阅读。

适用场景: 测量曲线噪声明显,且仍保留原始信号用于对照时使用。

主要设置

  • 窗口大小
  • 方法
  • 边缘行为
  • 与原始数据对比预览

操作流程

  1. 选中曲线。
  2. 选择“平滑”。
  3. 从较小窗口开始。
  4. 和原始数据对比。
  5. 确认没有扭曲关键特征后再应用。

导数与积分

用途: 从选定区域中提取斜率变化或曲线面积等结果。

适用场景: 用导数观察斜率变化,用积分定量曲线下面积。

主要设置

  • 选中范围
  • 导数阶数
  • 积分基线
  • 输出表格或曲线

操作流程

  1. 选择目标范围。
  2. 选择“导数”或“积分”。
  3. 设置参数。
  4. 预览结果。
  5. 导出图形前标注分析区域。

说明 / 限制

  • 分析结果取决于数据质量、选择范围和方法参数。
  • 在确认校正或拟合效果前,建议保留原始曲线作为对照。
  • 峰拟合、积分等局部操作应使用窄而明确的范围。
  • 平滑只能帮助观察趋势,不能替代原始数据。