分析功能
概览
SmartPlot 包含科研图形常用的数据处理和分析工具。
可用功能
- 基线校正
- Shirley 扣背底
- 峰拟合
- 趋势拟合
- 平滑
- 导数
- 积分
界面使用
分析面板 -> 选择方法 -> 设置参数 -> 预览 -> 应用
参数
- ROI
- 方法
- 峰数量
- 平滑窗口
- 预览状态
示例流程
- 导入科研数据。
- 选择目标范围。
- 选择分析方法。
- 预览结果。
- 应用并继续调整样式。
说明 / 限制
- 分析结果取决于数据质量、选择范围和方法参数。
相关功能
- 绘图
- 样式
- 导出
Shirley 扣背底
作用
Shirley 扣背底常用于 XPS 谱图，用来估计由非弹性散射造成的背景信号。
适用场景
适用于峰区域下方背景逐渐变化的 XPS 谱图。
如何使用
分析 -> 基线校正 -> Shirley
参数
- ROI：选中的 x 范围
- 端点模式：自动 / 手动
- 负值裁剪：开启 / 关闭
示例流程
- 导入 XPS 数据。
- 选择峰区域。
- 应用 Shirley 扣背底。
- 检查校正后的谱图。
- 如有需要继续峰拟合。
如果 ROI 过宽或包含无关峰，基线可能不稳定。